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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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zeta-APS美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時間：2023-03-17

型號：zeta-APS

瀏覽量：1965

美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準備，從而消除了操作失誤和數據的不確定性，同時節省了時間； 2)物有所值的諧振硬件設計； 3)寬粒徑測量范圍：從5nm到1000um； 4)自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態測定； 5)由于機載樣品混合和/或測量時的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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APS100型固體表面Zeta電位分析儀

更新時間：2021-11-03

型號：APS100型

瀏覽量：3364

固體表面Zeta電位分析儀，可測量縱向粘度，60%固體，PH值，電導率，溫度，聲衰減和聲速度譜；
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APS100型多孔材料表面Zeta電位分析儀

更新時間：2021-12-01

型號：APS100型

瀏覽量：2223

多孔材料表面Zeta電位分析儀，APS 從聲衰減光譜測量產生PSD數據，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。
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電聲法粒度儀Zeta電位分析儀

更新時間：2021-09-08

型號：

瀏覽量：3232

電聲法粒度儀Zeta電位分析儀可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；
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納米粒度儀分析儀DLS 90

更新時間：2021-08-30

型號：

瀏覽量：2317

納米粒度儀分析儀DLS 90，采用集成的光子相關器。基于FPGA的光子相關器，集成雙通道光子計數器，確保光子無遺漏；1000個物理通道，提供充足的測量數據；小100ns采樣時間，確保z低1nm顆粒的測量；芯片內模塊集成設計，保證高速、穩定的數據處理流程。
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美國MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀

更新時間：2021-08-11

型號：

瀏覽量：2617

美國MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；
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美國MAS超聲粒度儀電位分析儀

更新時間：2021-08-11

型號：

瀏覽量：2207

美國MAS超聲粒度儀電位分析儀自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態測定；
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美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀

更新時間：2021-07-27

型號：

瀏覽量：2298

美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態測定；
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